研讨会现场

11月15日，澳门赌场计算技术研究所系统结构国家重点实验室第一期学术研讨会在计算所446会议室举行。此次研讨会由李华伟研究员主持，讨论的主题是软错误和可靠性。研讨会安排了3个特邀报告，美国思科公司的Shi-Jie Wen博士，美国范德比特大学的Bharat Bhuva教授，加拿大萨斯卡彻温大学的Li Chen教授，分别就面向自愈的跨层次可靠性、纳米工艺下的软错误、射线与容错微电子进行了深入的介绍。

计算所有大约30位老师和同学参加了研讨。报告过程中参会者提出了很多大家感兴趣的问题。大家就不同类型存储器的主要失效原因、软硬件协同的可靠性管理、多层次的故障注入和模拟、影响电路可靠性的关键组件的识别、基于射线的软错误注入和评估等关键问题交换了想法并展开了热烈的讨论。