4月6日，德国Bruker公司资深研究员黄林博士应邀参加澳门赌场电工研究所“科技前沿论坛”学术报告会，并为科研人员做了一场关于扫描探针显微镜（SPM）检测技术最新进展的精彩报告。

黄林博士1984年毕业于复旦大学物理系，1996年从德国Bonn大学获得物理学博士学位，1996年在美国明尼苏达大学化工与材料科学系进行助理研究，1998年加入DI公司（而随后被Veeco公司兼并，目前属于德国Bruker公司）开展SPM的新技术开发和研究工作。

报告会上，黄林博士首先向大家介绍了SPM的发展历史及工作原理，接下来介绍了最新研制的世界领先高速原子力显微镜（AFM）产品Dimension FastScan AFM，并对其中的关键技术进行了说明。

与普通AFM相比，高速AFM具有更快的扫描速率，能大大减少扫描成像时间，使得观察样品的动态变化成为可能。Dimension FastScan AFM具有34um*34um*3um的X、Y、Z扫描范围，扫描行频可高达60Hz，扫描一幅512*512分辨率图像大概只需10秒。与普通AFM需要10分钟成像相比，扫描速率明显提高。另外此AFM采用的PeakForce TappingTM和ScanAsystTM等关键技术保证了对探针和样品相互作用力的精确控制以及控制参数的自适应调整，避免了普通AFM人为设置控制参数以及探针与样品相互作用力控制不当对成像质量的影响。

报告中黄林博士指出，尽管有实验室实现了更快的AFM扫描，如60帧/秒的视频级成像，但其在高速扫描的同时难以实现大的扫描范围，从而限制了AFM的应用。

最后，黄林博士展示了Dimension FastScan AFM扫描的精美图片和视频，介绍了AFM在生物、材料检测方面的应用，并与参会人员进行了答疑互动。